Page 7 - My FlipBook
P. 7
Instytut Inżynierii Materiałowej
Dane techniczne: Elektronowy
xx Zdolność rozdzielcza: mikroskop skaningowy
-- 3,5 nm (obraz SE w trybie wysokiej próżni Tescan Vega 5135
przy 30 kV i WD = 4 mm) ze spektrometrem
-- 4,0 nm (obraz BE w trybie niskiej próżni)
rentgenowskim EDS
xx Powiększenie: 20 - 500 000× PGT Prism 200 Avalon
xx Napięcie przyspieszające: 0,5 - 30 kV (regulacja ciągła)
xx Optyka elektronowa:
-- katoda wolframowa
-- centrowanie elektromagnetyczne
-- dwa kondensory
-- soczewka pośrednia z układem centrowania
-- stygmator ośmiobiegunowy
-- podwójne cewki odchylania
-- soczewka obiektywu
xx Stolik próbek: eucentryczny, przesuw śrubami
mikrometrycznymi, zakres przesuwów:
-- X = 40 mm, Y = 24 mm, Z = 27 mm
-- obrót ciągły 360º
-- pochylanie od 90º do +90º
xx Układ próżniowy: pompy rotacyjne i pompa turbomolekularna
xx Ciśnienie w komorze próbek:
-- 5×10–3 Pa w trybie wysokiej próżni
-- 5 - 50 Pa w trybie niskiej próżni
Zastosowanie: Słowa kluczowe
xx Obserwacja mikrostruktury przy dużych powiększeniach,
xx elektronowy mikroskop
fraktografia przełomów, ocena stanu powierzchni materiałów,
dokładne pomiary na obrazach SEM np. bardzo małych skaningowy
odcisków wgłębnika Vickersa, pomiar grubości cienkich
warstw powierzchniowych, pomiar ziaren, wydzieleń, mikropo- xx mikroanaliza rentgenowska
rowatości, ocena morfologii wydzieleń, badania składu che-
micznego, mikroanaliza jakościowa, ilościowa, liniowy rozkład xx skład chemiczny
stężenia pierwiastków, mapki rozkładu stężenia pierwiastków.
xx mikrostruktura
xx przełomy Powrót do spisu 5
Dane techniczne: Elektronowy
xx Zdolność rozdzielcza: mikroskop skaningowy
-- 3,5 nm (obraz SE w trybie wysokiej próżni Tescan Vega 5135
przy 30 kV i WD = 4 mm) ze spektrometrem
-- 4,0 nm (obraz BE w trybie niskiej próżni)
rentgenowskim EDS
xx Powiększenie: 20 - 500 000× PGT Prism 200 Avalon
xx Napięcie przyspieszające: 0,5 - 30 kV (regulacja ciągła)
xx Optyka elektronowa:
-- katoda wolframowa
-- centrowanie elektromagnetyczne
-- dwa kondensory
-- soczewka pośrednia z układem centrowania
-- stygmator ośmiobiegunowy
-- podwójne cewki odchylania
-- soczewka obiektywu
xx Stolik próbek: eucentryczny, przesuw śrubami
mikrometrycznymi, zakres przesuwów:
-- X = 40 mm, Y = 24 mm, Z = 27 mm
-- obrót ciągły 360º
-- pochylanie od 90º do +90º
xx Układ próżniowy: pompy rotacyjne i pompa turbomolekularna
xx Ciśnienie w komorze próbek:
-- 5×10–3 Pa w trybie wysokiej próżni
-- 5 - 50 Pa w trybie niskiej próżni
Zastosowanie: Słowa kluczowe
xx Obserwacja mikrostruktury przy dużych powiększeniach,
xx elektronowy mikroskop
fraktografia przełomów, ocena stanu powierzchni materiałów,
dokładne pomiary na obrazach SEM np. bardzo małych skaningowy
odcisków wgłębnika Vickersa, pomiar grubości cienkich
warstw powierzchniowych, pomiar ziaren, wydzieleń, mikropo- xx mikroanaliza rentgenowska
rowatości, ocena morfologii wydzieleń, badania składu che-
micznego, mikroanaliza jakościowa, ilościowa, liniowy rozkład xx skład chemiczny
stężenia pierwiastków, mapki rozkładu stężenia pierwiastków.
xx mikrostruktura
xx przełomy Powrót do spisu 5
