Page 11 - My FlipBook
P. 11
Katedra Radiokomunikacji
Laboratorium pracowni fotoniki
i systemów światłowodowych
O p is k o m p l e k s o w e j o f e r t y p o m i a r o w e j Stosowana aparatura:
dla przemysłu i nauki -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
Dostępna w pracowni fotoniki i systemów światłowodo- -- pomiar właściwości elementów optycznych za-
wych aparatura umożliwia realizację szerokiego zakresu
pomiarów optycznych w dziedzinie czasu oraz częstotli- leżnych od stanu polaryzacji światła (pomiar PDL
wości optycznych zarówno pasywnych jak i aktywnych metodą maximum-minimum oraz metodą macie-
elementów i submodułów optycznych. Dostępne meto- rzy Jonesa)
dy pomiarowe, w których wykorzystywany jest profesjo- Stosowana aparatura:
nalny sprzęt metrologiczny obejmują między innymi: -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
xx pomiar tłumienia i strat wtrąceniowych światło- -- miernik strat zależnych od polaryzacji, JDS Fitel PS3
xx badanie dyspersji polaryzacyjnej metodą
wodów i optycznych elementów skupionych wartości własnych macierzy Jones’a
Stosowana aparatura:
Stosowana aparatura: -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
-- modułowy optyczny system pomiarowy EXFO IQ 203 -- metodą skanowania długości fal
-- OTDR Anritsu Stosowana aparatura:
xx pomiar charakterystyk spektralnych -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
elementów pasywnych i aktywnych -- metodą interferometru Michelsona
Stosowana aparatura:
Stosowana aparatura: -- analizator dyspersji polaryzacyjnej, GN Nettest
-- analizator widma optycznego Anritsu, szerokopa- xx badanie dyspersji chromatycznej metodą
różnicową
smowe źródło EDF, lasery przestrajalne Agilent, Stosowana aparatura:
Santec, Photonetics, mierniki mocy optycznej HP, -- analizator dyspersji chromatycznej GN Nettest
ILX Lightwave, Anritsu, EXFO xx pomiar sygnałów optycznych w dziedzinie
xx precyzyjny, wielokanałowy (do 250 kanałów) czasu metodą samplingową i badanie jakości
pomiar długości fal z pełną charakterystyką cyfrowych sygnałów optycznych do częstotli-
nośnych optycznych systemów światłowodo- wości 20 GHz (pomiar parametru Q, BER, ER,
wych DWDM fluktuacji fazy)
Stosowana aparatura: Stosowana aparatura:
-- analizator DWDM Agilent -- Analizator Cyfrowych Systemów Telekomunikacyj-
-- modułowy optyczny system pomiarowy EXFO IQ nych, Agilent DCA
203 / IQ 5320 -- pattern generator Agilent 8133A
xx pomiar charakterystyk współczynnika odbicia xx analiza jakości systemów SDH/SONET
Stosowana aparatura: Stosowana aparatura:
-- modułowy optyczny system pomiarowy EXFO IQ 203 -- analizator SDH/SONET, Tektronix
-- modułowy system pomiarowy Agilent 8164A
xx pomiar stopnia spolaryzowania światła, pomiar Powrót do spisu 9
stanu polaryzacji światła, określenie parame-
trów macierzy Jonesa, wektora Stokesa, wizu-
alizacja na sferze Poincare’go
Laboratorium pracowni fotoniki
i systemów światłowodowych
O p is k o m p l e k s o w e j o f e r t y p o m i a r o w e j Stosowana aparatura:
dla przemysłu i nauki -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
Dostępna w pracowni fotoniki i systemów światłowodo- -- pomiar właściwości elementów optycznych za-
wych aparatura umożliwia realizację szerokiego zakresu
pomiarów optycznych w dziedzinie czasu oraz częstotli- leżnych od stanu polaryzacji światła (pomiar PDL
wości optycznych zarówno pasywnych jak i aktywnych metodą maximum-minimum oraz metodą macie-
elementów i submodułów optycznych. Dostępne meto- rzy Jonesa)
dy pomiarowe, w których wykorzystywany jest profesjo- Stosowana aparatura:
nalny sprzęt metrologiczny obejmują między innymi: -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
xx pomiar tłumienia i strat wtrąceniowych światło- -- miernik strat zależnych od polaryzacji, JDS Fitel PS3
xx badanie dyspersji polaryzacyjnej metodą
wodów i optycznych elementów skupionych wartości własnych macierzy Jones’a
Stosowana aparatura:
Stosowana aparatura: -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
-- modułowy optyczny system pomiarowy EXFO IQ 203 -- metodą skanowania długości fal
-- OTDR Anritsu Stosowana aparatura:
xx pomiar charakterystyk spektralnych -- analizator stanów polaryzacji, Agilent 8509 B/C
elementów pasywnych i aktywnych -- metodą interferometru Michelsona
Stosowana aparatura:
Stosowana aparatura: -- analizator dyspersji polaryzacyjnej, GN Nettest
-- analizator widma optycznego Anritsu, szerokopa- xx badanie dyspersji chromatycznej metodą
różnicową
smowe źródło EDF, lasery przestrajalne Agilent, Stosowana aparatura:
Santec, Photonetics, mierniki mocy optycznej HP, -- analizator dyspersji chromatycznej GN Nettest
ILX Lightwave, Anritsu, EXFO xx pomiar sygnałów optycznych w dziedzinie
xx precyzyjny, wielokanałowy (do 250 kanałów) czasu metodą samplingową i badanie jakości
pomiar długości fal z pełną charakterystyką cyfrowych sygnałów optycznych do częstotli-
nośnych optycznych systemów światłowodo- wości 20 GHz (pomiar parametru Q, BER, ER,
wych DWDM fluktuacji fazy)
Stosowana aparatura: Stosowana aparatura:
-- analizator DWDM Agilent -- Analizator Cyfrowych Systemów Telekomunikacyj-
-- modułowy optyczny system pomiarowy EXFO IQ nych, Agilent DCA
203 / IQ 5320 -- pattern generator Agilent 8133A
xx pomiar charakterystyk współczynnika odbicia xx analiza jakości systemów SDH/SONET
Stosowana aparatura: Stosowana aparatura:
-- modułowy optyczny system pomiarowy EXFO IQ 203 -- analizator SDH/SONET, Tektronix
-- modułowy system pomiarowy Agilent 8164A
xx pomiar stopnia spolaryzowania światła, pomiar Powrót do spisu 9
stanu polaryzacji światła, określenie parame-
trów macierzy Jonesa, wektora Stokesa, wizu-
alizacja na sferze Poincare’go
