4th International Conference on Quantum Metrology QM2013 - 15-17th May 2013

Opublikowano pon., 29/04/2013 - 13:38

Katedra Systemów Telekomunikacyjnych i Optoelektroniki przy współpracy z Friedrich-Schiller University (Jena, Niemcy) organizuje  międzynarodową konferencję Metrologia Kwantowa QM2013, która odbędzie się w dniach 15 - 17 maja 2013 roku w Poznaniu.

Celem konferencji jest prezentacja wyników prac badawczych i rozwojowych, zarówno teoretycznych jak i aplikacyjnych, w dziedzinie szeroko rozumianej metrologii kwantowej.  W naszym zamierzeniu konferencja QM2013 jest adresowana do środowisk metrologów i fizyków.

Konferencja w całości będzie prowadzona w języku angielskim.

Tematyka konferencji obejmuje zagadnienia:

  • Mikroskopy skaningowe i ich zastosowanie w metrologii
  • Kwantowy efekt Halla i wzorzec oporu elektrycznego
  • Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego
  • Zjawisko Josephsona i kwantowy wzorzec napięcia
  • Systemy pomiarowe w metrologii kwantowej
  • Tunelowanie pojedynczych elektronów SET
  • Zegary atomowe i wzorce częstotliwości
  • Podstawowe stałe fizyczne w metrologii
  • Zastosowanie detektorów SQUID
  • Kwantowy system miar SI
  • Nanometrologia
  • Krioelektronika
  • Spintronika

Szczegółowe informacje o konferencji znajdują się na stronie: www.kwant.et.put.poznan.pl